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Benabdelmoumene, L., Guyon, C., Cavadias, S., Amou Noordwijk:; ESA Publications Division, 2006 ESA - SP Vol.- No.616
On the turn-around phenomenon in n-MOS transistors under NBTI conditions
Benabdelmoumene, A., Djezzar, B., Chenouf, A., Tah Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2016 Solid-State Electronics Vol.121 No.-
Triade de Diamond : une manifestation rare de la maladie de Basedow. A propos d'un cas
Amrane, S., Benabdelmoumene, N., Melenotte, C., Ba Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2013 REVUE DE MEDECINE INTERNE Vol.34//SUP1 No.-
Recovery investigation of NBTI-induced traps in n-MOSFET devices
Djezzar, Boualem, Benabdelmoumene, Abdelmadjid, Za Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2020 Microelectronics and reliability Vol.110 No.-
Fluid-fluid level in postpartum pituitary microadenoma necrosis on MRI
Jemal, A., Benabdelmoumene, D., Soyer, P. Elsevier Science B.V., Amsterdam 2019 Diagnostic and interventional imaging Vol.100 No.2
Investigation of interface, shallow and deep oxide traps under NBTI stress using charge pumping technique
Tahi, H., Djezzar, B., Benabdelmoumene, A., Chenou Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2014 Microelectronics and reliability Vol.54 No.5
A propagation concept of negative bias temperature instability along the channel length in p-type metal oxide field effect transistor
Djezzar, B., Tahi, H., Benabdelmoumene, A., Chenou Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2013 Solid-State Electronics Vol.82 No.-
A new procedure for eliminating the geometric component from charge pumping: Application for NBTI and radiation issues
Tahi, H., Djezzar, B., Benabdelmoumene, A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2013 Microelectronics and reliability Vol.53 No.4
Un thrombus flottant étendu de la veine iliaque gauche révélant une maladie de Biermer
Dejeans, G., Bertolino, J., Benabdelmoumene, N., B Elsevier Science B.V., Amsterdam 2020 REVUE DE MEDECINE INTERNE Vol.41 No.S
On the Circuit-Level Reliability Degradation Due to AC NBTI Stress
Chenouf, A., Djezzar, B., Benabdelmoumene, A., Tah IEEE 2016 IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABIL Vol.16 No.3
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