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Arinero, R., Leveque, G. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2003 Review of scientific instruments Vol.74 No.1/1
Temperature and damping effects on the frequency dependence of electrostatic force microscopy force gradients (8 pages)
Arinero, R., Trasobares, J., Girard, P., Ramonda, AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2013 Journal of Applied Physics Vol.114 No.21
Numerical simulations of electrostatic interactions between an atomic force microscopy tip and a dielectric sample in presence of buried nano-particles (6 pages)
Arinero, R., Riedel, C., Guasch, C. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2012 Journal of Applied Physics Vol.112 No.11
Toward a better understanding of the nanoscale degradation mechanisms of ultra-thin SiO~2/Si films: Investigation of the best experimental conditions with a conductive-atomic force microscope (7 pages)
Arinero, R., Hourani, W., Touboul, A.D., Gautier, AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2011 Journal of Applied Physics Vol.110 No.1
Quantitative Mapping of NanoDielectrics with Electrostatic Force Microscopy
Arinero, R. ROLSTON GORDAN COMMUNICATIONS 2010 MICROSCOPY AND ANALYSIS Vol.- No.139
Image processing for resonance frequency mapping in atomic force modulation microscopy (6 pages)
Arinero, R., Leveque, G., Girard, P., Ferrandis, J AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2007 Review of scientific instruments Vol.78 No.2
High fluence 1.8MeV proton irradiation effects on n-type MOS capacitors
Arinero, R., Zhang, E. X., Rezzak, N., Schrimpf, R Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011 Microelectronics and reliability Vol.51 No.12
A treatment-outcome study of cognitive-behavioural therapy for battered women: Preliminary findings
Arinero, M., Crespo, M. PSICOLOGIA CONDUCTUAL 2004 PSICOLOGIA CONDUCTUAL Vol.12 No.2
Antecedentes y creación del Real Gabinete de Historia Natural de Madrid
Calatayud Arinero, M.ª de los Angeles Consejo Superior de Investigaciones Científicas 1986 Arbor: Ciencia, pensamiento y cultura Vol.123 No.482
Thermo-magnetic behaviour of AFM-MFM cantilevers
Kumar, M , Arinero, R , Bergez, W , Tordjeman, Ph IOP Pub 2015 Measurement science & technology Vol.26 No.8
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