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J. J. Delima, A. J. Snell, K. V. Krishna, A. E. Ow American Institute of Physics 1989 Journal of Applied Physics Vol.65 No.10
Constant current forming in Cr/p
J. Hu, A. J. Snell, J. Hajto, A. E. Owen North-Holland 1998 Journal of non-crystalline solids Vol.227 No.-
IR and RBS studies of RF sputtered films of vanadium doped silicon dioxide
J.J. Delima, A.J. Snell, K.V. Krishna, A.E. Owen North-Holland 1987 Journal of non-crystalline solids Vol.90 No.1-3
Critical behavior of the dielectric properties near the metal-non-metal transition in Cr/p(+) a-Si:H
J. Hu, A. J. Snell, J. Hajto, A. E. Owen, M. J. Ro North-Holland 1996 Journal of non-crystalline solids Vol.198 No.-
Electronic Switching in amorphous silicon devices: properties of the conducting filament (invited)
Owen, A. E.,Hu, J.,Snell, A. J.,Hajto, J. Publishing House of Electronics Industry 1998 INTERNATIONAL CONFERENCE ON SOLID STATE AND INTEGR Vol.5 No.-
Quantization effects in metal/a-Si:H
Hajto, J.,Rose, M. J.,Osborne, I. S.,Snell, A. J. Taylor and Francis 1992 International Journal of Electronics Vol.73 No.5
DC and ac measurements on metal/a-Si:H/metal thin film devices
Hajto, J.: Snell, A. J.,Hu, J.,Holmes, A. North-Holland 1993 Journal of non-crystalline solids Vol.164-166 No.2
Step-Like Current-Voltage Characteristics in Metal / a-Si:H / Metal Structures
Hajto, J.,Snell, A. J.,Rose, M. J.,Owen, A. E. Materials Research Society 1993 Materials Research Society Symposium Proceedings Vol.297 No.-
The characteristics and properties of optimised a-Si FETs and their application in integrated image sensors
A.J. Snell, p.G. Lecomber, K.D. Mackenzie, W.E. Sp North-Holland 1983 Journal of non-crystalline solids Vol.59-60 No.2
The metal-amorphous silicon barrier; interpretation of capacitance and conductance measurements
A.J. Snell, K.D. MacKenzie, p.G. Le comber, W.E. S North-Holland 1980 Journal of non-crystalline solids Vol.35-36 No.1
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