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(Invited) Identification of Intrinsic Point Defects at Ge~xSi~1~-~x/Oxide Interfaces by ESR Probing
Stesmans, A., Nguyen, A., Afanas ev, V., Lieten, R Pennington; Electrochemical Society 2010 ECS Transactions Vol.33 No.3
As~G~a^+ antisites identified by electron spin resonance as a main interface defect system in thermal GaAs/native oxide structures (5 pages)
Stesmans, A., Nguyen, S., Afanas ev, V.V. AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2013 Applied Physics Letters Vol.103 No.16
Blocking of thermally induced interface degradation in (111) Si/SiO
A. Stesmans, V. V. Afanas'ev, A. G. Revesz Institute of Physics 1998 Journal of Physics, Condensed Matter Vol.10 No.22
On the origin of the asymmetric ESR lineshape of dangling bonds in a-Si and a-Si:H
A. Stesmans, Y. Wu North-Holland 1988 Journal of non-crystalline solids Vol.99 No.1
ELECTRON-SPIN-RESONANCE OF DEFECTS IN SILICON-ON-INSULATOR STRUCTURES FORMED BY OXYGEN IMPLANTATION - INFLUENCE OF GAMMA-IRRADIATION
A. Stesmans, A. G. Revesz, H. L. Hughes American Institute of Physics 1991 Journal of Applied Physics Vol.69 No.1
Electron spin resonance analysis of sputtering-induced defects in advanced low-κ insulators (κ=2.0–2.5)
Stesmans, A., Nguyen, A. P., Houssa, M., Afanas’ Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2013 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.109 No.-
Paramagnetic oxide traps in Sc2O3-passivated (100)Ge/HfO2 stacks
Stesmans, A., Iacovo, S., Cott, D., Thean, A., Ari Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2015 MICROELECTRONIC ENGINEERING Vol.147 No.-
Suppression of Thermal Interface Degradation in (111) Si/SiO2 by Noble Gases
Stesmans, A.,Afanas'ev, V. V.,Revesz, A. G. American Institute of Physics 1999 Applied Physics Letters Vol.74 No.10
Near-interface Si substrate 3d metal contamination during atomic layer deposition processing detected by electron spin resonance (6 pages)
Nguyen, A.P.D., Stesmans, A., Hiller, D., Zacharia AMERICAN INSTITUTE OF PHYSICS 2012 Journal of Applied Physics Vol.111 No.11
Defects in Si foils fabricated by spalling at low temperature: electrical activity and atomic nature
Masolin, A., Simoen, E., Kepa, J., Stesmans, A. IOP PUBLISHING LTD 2013 Journal of Physics. D, Applied Physics Vol.46 No.15
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