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Richelli, A., Colalongo, L., Quarantelli, M., Carm IEEE; 1998 2004 IEEE journal of solid-state circuits Vol.39 No.1
CMOS OpAmp Resisting to Large Electromagnetic Interferences
Richelli, A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2010 IEEE transactions on electromagnetic compatibility Vol.52 No.4
Increasing EMI Immunity in Novel Low-Voltage CMOS OpAmps
Richelli, A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2012 IEEE transactions on electromagnetic compatibility Vol.54 No.4
A DC/DC Boosting Technique and Power Management for Ultralow-Voltage Energy Harvesting Applications
Richelli, A., Comensoli, S., Kovacs-Vajna, Z.M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2012 IEEE transactions on industrial electronics Vol.59 No.6
Charge Pump Architectures Based on Dynamic Gate Control of the Pass-Transistors
Richelli, A., Colalongo, L., Mensi, L., Cacciatori INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS 2009 IEEE transactions on very large scale integration Vol.17 No.7
Acute inflammatory demyelinating polyneuropathy as a manifestation of chronic lymphoproliferative disorder of NK cells
Richelli, S., Buono, R., Ferrari, S., Vattemi, G. Springer Science + Business Media 2015 NEUROLOGICAL SCIENCES Vol.36 No.6
Design of an integrated tunable differential negative resistance in UMC 0.18μm
Richelli, A., Grassi, M., Redouté, J.-M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2016 Microelectronics Journal Vol.48 No.-
Increasing the Immunity to Electromagnetic Interferences of CMOS OpAmps
Richelli, A., Colalongo, L., Kovacs-Vajna, Z. M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2003 IEEE transactions on reliability Vol.52 No.3
An EMI-Resistant Common-Mode Cancelation Differential Input Stage in UMC 180 nm CMOS
Richelli, A., Kennedy, S., Redoute, J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2017 IEEE transactions on electromagnetic compatibility Vol.59 No.6
Susceptibility of Operational Amplifiers to Conducted EMI Injected Through the Ground Plane into Their Output Terminal
Richelli, A., Delaini, G., Grassi, M., Redoute, J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2016 IEEE transactions on reliability Vol.65 No.3
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