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장동영(Jang Dong-Young),김동환(Kim Dong-Hwan),박만진(Park Man-Jin),양희남(Yang Hee-Nam) 한국생산제조학회 2005 한국생산제조시스템학회 학술발표대회 논문집 Vol.2005 No.10
The scanning electron microscope(SEM) is an important research and production tool extensively used in many phases of industry throughout the world. The popularity of the instrument results from the need to inspect and obtain information about samples with ever-decreasing structure. The SEM provides higher resolution analysis and inspection than that afforded by current techniques using the optical microscope. Furthermore, unlike the optical microscope, the SEM offers a wide variety of analytical modes, each contributing unique information regarding the physical, chemical, and electrical properties of a particular specimen, device, or circuit.
장동영(Dong-Young Jang),문철홍(Cheol-Hong Moon) 대한전자공학회 2007 대한전자공학회 학술대회 Vol.2007 No.11
본 논문에서는 인간의 시각 특성 중 이동 물체를 추적하고 거리를 측정하는 시스템을 구현하였다. 본 논문에서 구현된 시스템은 이동 물체 추적 부분과 거리 측정부로 구성된다. 동 물체 추적은 차영상을 이용한 블록정합 방법으로 구현하였다. 또한 투영 벡터를 이용하여 노이즈를 제거하였고 3방향에 대한 투영 벡터 결과로 이동 물체 각각을 분리하여 각각 이동 물체에 대해 추적하였다. 거리 검출은 스테레오 영상을 통해 입력되는 영상을 스테레오 정합을 통해 Depth Map을 만들어 Depth Map 분석을 통해 이동 물체 거리를 측정한다.
장동영(Dong-Young Jang),반창우(Chang-Woo Ban),임영환(Young-Hwan Lim),홍석기(Suk-Ki Hong) 대한기계학회 2009 大韓機械學會論文集A Vol.33 No.9
In this paper, bonded wafer analysis system is proposed using laser beam transmission; while the transmission model is derived by simulation. Since the failure of bonded wafer stems in void existence, transmittance deviations caused by the thickness of the void are analyzed and variations of the intensity through the void or defect easily have been recognized then the testing power has been increased. In addition, large screen display on laser study has been done which resulted in acquiring a feasible technique for analysis of the whole bonding surface. In this regard, three approaches are demonstrated in which Halogen lamp, IR lamp and laser have been tested and subsequently by results comparison the optimized technique using laser has been derived.
장동영(Dong-Young Jang),오은택(Eun-Tack Oh) 대한전자공학회 2007 대한전자공학회 학술대회 Vol.2007 No.7
본 논문에서는 인간의 시각 특성 중 특정 물체의 거리를 지각하는 메커니즘을 실시간 처리를 위해 하드웨어로 구현하였다. 본 논문에서 구현된 시스템은 크게 스테레오 영상 입ㆍ출력부는 ALTERA 사이 Excalibur을 기반으로 하여 Image Decoder, UART, SDRAM, SRAM, TFT-LCD등으로 구성된 Image Board로 스테레오 영상을 받아 처리할 수 있게 설계하였다. IP부분은 Image Decoder 내부 레지스터를 설정하기 위한 I2C 버스, IP 두 개의 Image Decoder를 통해 들어오는 스테레오 영상 입력 IP, 에러 보정을 위한 미디언 필터링 IP부, 에지 검출 IP, 거리를 검출하기 위한 스테레오 정합을 IP와 결과 영상을 보여주기 위한 TFT-LCD IP를 구현하였다.
장동영(Jang Dong-Young),박만진(Park Man-Jin),김진현(Kim Jin-Hyun),한동철(Han Dong-Chul) 한국생산제조학회 2004 한국생산제조시스템학회 학술발표대회 논문집 Vol.2004 No.4
In focused-ion-beam (FIB) application of micromachining and device transplantation, four kinds of FIB processes, namely FIB sputtering, FIB-induced etching, redeposition, and FIB-induced deposition, are well utilized. As with FIB systems, scanning electron microscopes(SEMs) were extensively used in the semiconductor industry. They are the tools of choice for defect review and providing the image resolution needed for process monitoring. The enhanced capabilities of a dual-column on one chamber system are quickly becoming realized by the nano industry for performing a wide range of application.
장동영(Jang Dong-Young),김동환(Kim Dong-Hwan),박만진(Park Man-Jin),양희남(Yang Hee-Nam) 한국생산제조학회 2005 한국공작기계학회 추계학술대회논문집 Vol.2005 No.-
The scanning electron microscope(SEM) is an important research and production tool extensively used in many phases of industry throughout the world. The popularity of the instrument results from the need to inspect and obtain information about samples with ever-decreasing structure. The SEM provides higher resolution analysis and inspection than that afforded by current techniques using the optical microscope. Furthermore, unlike the optical microscope, the SEM offers a wide variety of analytical modes, each contributing unique information regarding the physical, chemical, and electrical properties of a particular specimen, device, or circuit.