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이옥빈(O.B.Lee),임희진(H.J.Lim),조민수(M.S.Cho),최고봉(G.B.Choi),이상호(S.H.Lee) 한국정보과학회 1997 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.24 No.1A
본 논문에서는 IP-INAP(Intelligent Peripheral - Intelligent Network Application Protocol)의 적합성 시험을 위한 시험열 생성 방법을 제안한다. INAP FSM과 같이 여러개의 self-loop를 갖는 프로토콜에서 제어의 흐름만을 고려한 프로토콜 적합성 시험열은 실행 불가능 경로를 생성할 수 있다. 시험열은 특정 전이에 의한 i/o와 목적 상태를 검사하기 위한 i/o의 열로 구성된다. 이와 같은 문제를 해결하기 위해 본 논문에서 제시하는 방법은 ‘상태에 대한 UIO(Unique Input Output) 개념을 근간으로 하고 있는 기존의 방법과는 접근방식을 달리한다. 즉, 어떤 전이에 의해 도달한 상태를 검증하기 위해 전이 조건에 포함되는 ‘데이타 흐름의 변칙성’ 분석 기법을 사용하여 ‘전이에 대한 UIO’를 생성하였다.또한 시험길이 감소를 위해 subsequence중에 나타나는 중복 및 연속 경로를 통합하였다. 그 결과 테스트 길이를 70% 수준으로 감소시켰고 실행 불가능 경로를 제거할 수 있었다.