http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
- 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
- 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
RISS 인기검색어
- 검색키워드
- 저자 : 이난초 (검색결과 3 건)
- 무료
- 기관 내 무료
- 유료
-
만성질환에 대한 가족력의 유병률과 위험도에 관한 연구: 국민건강영양조사(2019)를 중심으로
이난초,김민주,최희진,이종석,정득,Lee, Nan-Cho,Kim, Min-Ju,Choi, Hee-Jin,Lee, Jongseok,Jung, Deuk 중소기업융합학회 2021 융합정보논문지 Vol.11 No.8
본 연구는 국민건강영양조사 2019 자료를 이용하여 만성질환 가족력에 대한 만성질환의 유병률과 위험도를 실증적으로 도출하고자 하였다. 연구 대상자는 5,691명으로 만성질환 가족력과 관계있는 인구사회학적 변수들을 통제한 후, 만성질환 유병에 대한 만성질환 가족력의 위험도인 오즈비를 검증하기 위해 로지스틱 회귀분석을 수행하였다. 주요 결과는 성별, 나이, 소득수준, 교육수준, 거주지역을 통제한 경우, 만성질환 가족력이 없는 집단 대비 가족력이 있는 집단에서 만성질환이 발병할 위험도인 오즈비는 고혈압 2.623, 이상지질혈증 1.868, 당뇨병 1.964, 관절염 1.435로 유의하게 나타났다. 이러한 결과는 가족력 검사에 대한 표준화 도구를 개발하고 보건의료의 예방의학 차원에서 가족력이 있는 구성원에 대한 건강과 질병 관리 시스템이 필요함을 시사한다. 본 연구는 만성질환 유병률에 영향을 미치는 인구사회학적 변수를 통제하고, 만성질환에 대한 가족력의 위험도를 실증적으로 확인하여 보건의료 측면에서 실천방안을 제언했다는 점에서 의의가 있다. This study was conducted to empirically analyze the prevalence and risk of chronic diseases in the family history of chronic diseases using data from the Korea National Health and Nutrition Examination Survey 2019. Based on 5,691 people, after controlling for socio-demographic variables that were related to family history of chronic diseases, logistic regression analysis was performed to verify the odds ratio, which was the risk of family history of chronic diseases for the prevalence of chronic diseases. The main results were founded that Odds ratio, which was the risk of chronic diseases in groups with a family history compared to those without a family history, was statistically significant at hypertension(2.623), dyslipidemia(1.868), diabetes(1.964), and arthritis(1.435) when gender, age, income status, education level and residence were controlled. These results suggest that it is not only necessary to develop a standardization tool for family history tests, but also a health and disease management system for members with a family history in terms of preventive medicine in health care. This study is significant in that it proposed a practical plan in terms of health care by controlling variables that affect the prevalence of chronic diseases and empirically identifying the risk of family history of chronic diseases.
-
InGaN/GaN 청색 발광다이오드에서 전류 과밀 현상이 운반자 넘침에 미치는 영향에 대한 연구
유혜정,이진규,김태수,오난초,송정훈 한국물리학회 2014 새물리 Vol.64 No.11
Because conventional GaN-based light-emitting diodes (LEDs) grown on the sapphire substrates use a mesa structure for current injection, the current flows have both vertical and horizontal components. In these LEDs, the distribution of the current density in the horizontal direction cannot be totally uniform. The nonuniform current flows may cause nonuniform light emission and degrade the external quantum efficiency. This effect is called the current crowding effect. In this study, we analyzed the degree of current crowding and its effects on the carrier spill-over and the resultant external quantum efficiency in InGaN/GaN blue LEDs. A carrier spill-over that was larger by a factor of 1.7 was observed when the current crowding was measured to be 3.1 times lager, which means current crowding enhances the current overflow. We further show that the nonuniform distribution of carriers results in a different external quantum efficiency (EQE) that is a function of the distance from the p-contact edge, which can have a significant effect on the efficiency droop at high current. Although several mechanisms have been suggested to explain the droop, including electron leakage at heterointerfaces, poor hole injection efficiency, indium-rich regions, we show that the current-crowding effect, which increases with increasing current density is one of the major causes of the efficiency droop. 일반적인 GaN 기반 발광다이오드는 사파이어 기판 위에 성장시킨 메사 구조이다. 발광다이오드는 수직방향과 수평방향으로 전류의 흐름이 생기게 된다. 이때 구조적인 특성으로 인하여 메사 구조로 이루어진 발광다이오드에서는 수평 방향으로의 전류의 흐름에 불균형이 생기게 된다. 수평으로의 불균형한 전류 주입은 위치적으로 불균형한 발광을 유도하게 되고 이러한 현상을 ``전류 과밀 현상 (current crowding effect)''이라 한다. 본 연구에서는 전류 과밀의 정도를 분석하여, 이러한 전류 과밀 현상이 위치에 따른 운반자 넘침과 외부양자효율에 미치는 영향을 측정 분석하였다. 전류 과밀 현상이 큰 영역일수록 운반자 넘침은 커졌다. 이에 전류 과밀 현상은 운반자 손실을 유발하였다. 또한 위치적인 운반자 주입 불균형이 위치적으로 다른 내부양자효율을 초래하였고 그에 따라 실제 소자에 고전류 효율 저하로 이어지는 것을 보일 수 있었다. 고전류 효율 저하에 영향을 미치는 요인으로는 전류 누설, 정공의 주입 효율 감소, 인듐 국소화 등이 알려져 있지만, 전류 밀도가 증가할수록 더 큰 영향을 받는 전류 과밀 현상이 고전류 효율 감소에 매우 중요한 기여를 하고 있음을 보일 수 있었다.
-
유햬정,동양건,김태수,이진규,오난초,송정훈 한국물리학회 2015 THE JOURNAL OF THE KOREAN PHYSICAL SOCIETY Vol.67 No.2
We analyzed the current-crowding process and its effects on carrier spill-over and light outputpower loss in InGaN/GaN blue-light-emitting diodes. When the current density was measured to be 3.1 times larger, the carrier spill-over was observed to be 1.9 times higher. The effects of current crowding on the loss of efficiency and on carrier spill-over were determined quantitatively. Through this analysis, we were able to correlate the degree of current crowding with the loss rate of lightoutput power. When the injected current was increased 2.5 times, the current-spreading length decreased 1.2 times, and the loss rate of the light-output power increased from 5% to 12%.
ScienceON
eArticle연관 검색어 추천
이 검색어로 많이 본 자료
활용도 높은 자료
