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엄대호,장영배,정의섭,Uhm, Dai-Ho,Chang, Young-Bae,Jeong, Eui-Seop 한국과학기술정보연구원 과학기술정보센터 2010 Journal of Information Science Theory and Practice Vol.41 No.3
Most research about patent data analyzes the trend of technologies using a Patent Map(PM), and suggests the frequencies and trend of patents in a certain topic using tables or graphs in Excel. However, more advanced analysis tools are recently needed to compare the trends among national and international industries. This research discussed why statistical analysis is needed to improve the reliability in PM analysis, and the research compares the trends of patents in Korea between 1990 and 2004 by years, International Patent Classification(IPC) sections, and countries using the frequencies and Poisson regression model. The statistical analysis is also suggested and applied to R&D studies. 지금까지 특허분석에 관한 연구는 특허지도(Patent Map; PM)분석을 수행하여 기술동향을 분석하고 있으나, 주제에 대한 검색결과를 엑셀 등을 이용하여 그래프화하여 출원빈도에 대한 추이를 나타내는 것이 대부분이다. 이러한 분석은 특정주제에 대한 것으로 국가의 산업이나 국제적인 산업의 동향을 직접 비교 분석하기에는 미흡한 실정이다. 본 연구에서는 PM분석의 신뢰성을 높이기 위해 통계분석의 필요성을 제시하고, 1990년부터 2004년에 출원된(출원번호 기준) 한국특허 전체를 대상으로 연도별, 분류별(IPC Section 분류)로 각 국가(한국, 미국, 일본, 독일)의 출원빈도를 통계적으로 유의한 수준을 분석하였다. 또한 국가 및 기술 분류에 대한 출원빈도에 대해 포아송 회귀분석을 수행하고, 통계 적으로 유의한 수준에 따른 평가를 R&D에 활용할 수 있도록 하였다.