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박형기(Park, Hung-Ki),최충석(Choi, Chung-Seog) 한국화재소방학회 2011 한국화재소방학회 학술대회 논문집 Vol.2011 No.춘계
본 논 연구에서는 가전제품 중에서 야간 절전 버튼의 작동 불량 원인을 규명하여 제품의 성능 및 신뢰성 향상을 위한 객관적 근거를 제시하였다. 시판된 제품을 수거하여 불량품 검사(전기적 특성 및 decap)를 실시한 결과 절전 버튼 IC pin No.2의 단락(short)에 의한 오작동 요소를 밝힐 수 있었다. 동일한 사양의 재현실험에서 EOS(전기적 과도전압에 의한 스트레스)보다 정전기 방전에 스트레스에 의해서 소손되는 특성을 나타내는 것을 확인할 수 있었다. 오작동 요소로 확인된 IC pin 2번에 바리스터(Varistor)를 부착하고 11kV를 인가하여 시험한 결과 오작동 요소를 제거할 수 있었다.
가속수명시험을 이용한 조명용 WOLED의 수명예측에 관한 연구
최충석(Chung-Suk Choi),문진철(Jin-Chel Moon),박형기(Hung-Ki Park) 한국조명·전기설비학회 2010 한국조명·전기설비학회 학술대회논문집 Vol.2010 No.5월
This paper presents an accelerated life test for White Organic Emitting Diodes(WOLEDs), influence of several operating conditions on luminance degradation in full color organic lighting diodes has been investigated by the analysis of its luminance decay curve, the conditions varied were temperature(60℃, 80℃) and applied direct current voltage(16V, 20V). To estimate the degradation failure of WOLED device, an accelerated life test(ALT) was planned by temperature and voltage are selected as accelerating variables through the environment test about failure mechanism We assumed that Weibull lifetime distribution and a generalized linear model of life-stress relationship hold through goodness of fit test. Using ALT software, we estimated the common shape parameter of Weibull distribution, life-stress relationship, and accelerating factor. mean time between failure(MTBF) has a about 950 hours at room temperature and normal voltage.