http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
반도체 공정중 연속적 산화-HF 식각-염기성 세정과정이 실리콘 기판 표면에 미치는 영향
박진구,Park, Jin-Gu 한국재료학회 1995 한국재료학회지 Vol.5 No.4
반도체 세정공정에서 염기성 세정액(SCI, Standard cleaning 1, $NH_{4}$OH + $H_{2}$O_{2}$ + $H_{2}$O)은 공정상 발생되는 여러 오염물 중 파티클의 제거를 위해 널리 사용되고 있는데, SCI 조성중 $NH_{4}$OH양에 따라 세정 중 실리콘의 식각속도를 증가시킨다. 이 연구에서는 SCI 세정이 CZ(Czochralski)와 에피 실리콘 기판 표면에 미치는 영향을 단순세정과 연속적인 산화-HF 식각-SCI 세정공정을 통해 관찰되었다. CZ와 에피 기판을 8$0^{\circ}C$의 1 : 2 : 10과 1 : 1 : 5 SCI 용액에서 60분까지 단순 세정을 했을 때 laser particle scanner와 KLA사의 웨이퍼 검색장치로 측정된 결함의 수는 세정시간에 따라 변화를 보이지 않았다. 그러나 CZ와 에피 기판을 10분간 SCI 세정후 90$0^{\circ}C$에서 산화 HF식각공정을 4번까지 반복하였을 때 에피 기판 표면의 결함수는 감소하는 반면에 CZ기판에서는 직선적으로 증가하였다. 반복적인 산화-HF 식각-XCI 세정공정을 통해 생성된 CZ기판 표면의 결함은 크기가 0.7$\mu$m 이하의 pit과 같은 형상을 보여주었다. 이들 결함은 열처리 중 CZ 기판내와 표면에 산화 석출물들이 형성, 반복적인 HF 식각-SCI 세정공정을 통해 다른 부위에 비해 식각이 빨리 일어나 표면에 생성되는 것으로 여기어 진다.
계면 활성제 첨가한 암모니아수의 소수성 실리콘 웨이퍼와의 반응 세정 효과
박진우,박진구,김기섭,송형수,Park, Jin-U,Park, Jin-Gu,Kim, Gi-Seop,Song, Hyeong-Su 한국재료학회 1999 한국재료학회지 Vol.9 No.9
본 연구에서는 NH(sub)4OH에 계면 활성제를 첨가한 세정액의 특성 및 세정 효과를 H(sub)2O(sub)2가 첨가된 NH(sub)4OH 세정액과 비교 연구하였다. NH(sub)4OH에 계면 활성제를 첨가한 경우 용액의 pH 및 산화 환원전위(Eh) 는 NH(sub)4OH의 값과 거의 유사하고 H(sub)2O(sub)2를 첨가한 경우에 pH는 감소하고 Eh는 증가하는 경향을 보였다. 표면장력은 계면 활성제를 첨가한 경우 약 72 dynes/cm에서 약 38dynes/cm로 감소하였으나 H(sub)2O(sub)2를 첨가한 경우에는 NH\ulcornerOH 용액과 비교 거의 변화가 없었다. 실리콘 웨이퍼의 식각 속도를 측정한 결과 H(sub)2O(sub)2나 계면 활성제를 첨가하지 않은 초순수와 1 : 5(NH(sub)4OH : H(sub)2O(sub)2)의 부피비의 NH(sub)4OH용액이 첨가한 용액에 비해 최소 50배 이상의 높은 식각 속도를 보였다. 파티클 제거 실험에서 H(sub)2O(sub)2가 첨가된 NH(sub)4OH 세정액은 실험에 사용한 실리콘 표면위의 직경 0.67$\mu\textrm{m}$의 PSL파티클을 세정액의 온도와 무관하게 잘 제거하였으나 계면 활성제를 첨가한 NH\ulcornerOH경우에 상온에서는 파티클을 제거할 수 없었으나 온도를 5$0^{\circ}C$와 8$0^{\circ}C$로 증가시킨 경우 H(sub)2O(sub)2가 첨가된 NH(sub)4OH와 유사한 세정 효과를 나타내었다. The purpose of this research was to investigate the characteristics and the cleaning efficiency on HN(sub)4OH solutions added with H(sub)2O(sub)2 and surfactants. NH(sub)4OH solutions added with surfactants did not show much changes in pH and redox potential (Eh) as a function of NH(sub)4OH concentration compared with NH(sub)4OH solution. However H(sub)2O(sub)2 added NH\ulcornerOH solutions showed the decrease of pH and the increase of Eh as the concentration of NH(sub)4OH increased. The decrease of surface tension from 72 dynes/cm to 38 dynes/cm was observed in solutions added with surfactant but not in H(sub)2O(sub)2. The etch rates of silicon in NH(sub)4OH solutions(NH(sub)4OH:H(sub)2O= 1 : 5) showed at least 50 times higher than those in H(sub)2O(sub)2 and surfactant added NH(sub)4OH solutions(NH(sub)4OH:H(sub)2O(sub)2= 1 : 1 : 5) solution removed the PSL particles (0.67$\mu\textrm{m}$ in diameter) on Si wafers effectively at all temperatures investigated. NH(sub)4OH solution added with a surfactant could not remove particles at room temperature, however it was possible to remove particles at higher temperatures, 5$0^{\circ}C$ and 8$0^{\circ}C$.
반도체 습식 HF 최종 공정 중 실리콘 표면의 소수성이 Water Mark형성에 미치는 영향
한정훈,김숭환,박진구,박종진,Han, Jeong-Hun,Kim, Sung-Hwan,Park, Jin-Gu,Park, Jong-Jin 한국재료학회 1997 한국재료학회지 Vol.7 No.10
본 연구에서는 반도체 소자의 수율을 현저히 저하시키는 반도체 습식 세정 시 건조 후 웨이퍼 표면에 형성된 water mark의생성 원인을 고찰하였다. 이를 위해 초순수수의 물방울을 다른 접촉각의 시편 위에 고의로 잔류시킨 후 질소 및 산소 분위기에서 건조시켰다. 건조 분위기와 상관없이 HF 처리된 소수성의시편 뿐만 아니라 친수성의 시편에서도 water mark이 관찰되었다. 생성된 water mark의 크기는 분위기에 무관하게 접촉각이 증가함에 따라 감소하였다. 그러나 산소 분위기에서 HF처리된 시편은 건조 후 질소 분위기에서 생성된 water mark의 크기보다 2배이상 크게 형성되었다. 이들 산소 및 질소 분위기에서 HF 처리된 실리콘 시편 위에 생성된 water mark의 성분을 AES(Auger Electron Spectroscopy)로 분석한 결과 water mark는 실리콘과 산소의 화합물 형태로 존재함을 확인하였다. AAS(Atomic Absorption Spectroscopy)분석 결과 건조 분위기에 상관 없이 HF처리된 실리콘 시편 위에 물방울을 30분 잔류시 물방울 내의 실리콘 농도가 증가하였다. 또한 물방울내 ozone을 첨가하여 실리콘 표면을 산화 시켰을 때 물방울과 표면의 접촉각 감소와 water mark의크기의 증가를 초래하였다.
흰쥐의 일차배양 간세포에서 Glycyrrhizin 및 Baicalin의 간 보호 활성 평가
김성화(Sung-Hwa Kim),천호준(Ho Jun Cheon),박진구(Jin-Gu Park),김영식(Yeong Shik Kim),강삼식(Sam Sik Kang),허광화(Guang Hua Xu),이승호(Seung Ho Lee),손건호(Kun Ho Son),이선미(Sun-Mee Lee) 대한약학회 2006 약학회지 Vol.50 No.6
The aim of this study was to investigate the protective effects of glycyrrhizin, active glycosides of Glycyrrhizae Radix, and baicalin, bioactive flavonoid isolated from Scutellariae Radix, on hepatocyte injury induced by carbon tetrachloride(CCl4, 10mM), tert-butyl hydroperoxide (TBH, 0.5 mM), and D-galactosamine (GalN, 30mM). Primary cultures of rat hepatocyte (18 hr cultured) were treated with CCl4, TBH, or GalN and various concentrations (0.1, 1, 10, and 100 μM) of glycyrrhizin or baicalin. Activity was accessed by determining the release of lactate dehydrogenase (LDH) and aminotransferses. CCl4 significantly increased the levels of LDH, alaine aminotransferase (ALT), and aspartate aminotransferase (AST) and these increases were prevented by baicalin concentrations of 0.1, 1, and 100μM. The increases in ALT and AST levels were reduced by glycyrrhizin concentration of 100 μM. The level of LDH was markedly increased by TBH, and this increase was reduced by both glycyrrhizin and baicalin. ALT and AST levels were increased by TBH, which were prevented by glycyrrhizin and bacalin, respectively. GalN markedly increased the levels of LDH, ALT and AST. These increases was significantly reduced by both glycyrrhizin and baicalin. These results suggest that glycyrrhizin and baicalin possess the hepatoprotective activity.