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Built - In Test를 爲한 LSI / VLSI 回路分割
김동욱(D. W. Kim),임인칠(I. C. Lim) 한국정보과학회 1984 한국정보과학회 학술발표논문집 Vol.11 No.2
本 論文에서는 VLSI 回路에 Built-In Test 方式을 適用할 경우 一括 test가 可能하도록 回路分割하는 方法을 提案한다. 이 方法은 分割된 각 module을 한개씩 test할 필요가 없고, pipeline 방식으로 一括 test를 수행하므로 test시간과 test를 爲한 附加回路의 量을 상당히 줄일 수 있다.