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      FTS법을 이용한 ITO박막의 제작 = Preparation of ITO Thin Films by FTS{Facing Targets Sputtering) Method

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      https://www.riss.kr/link?id=A101055395

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      The ITO thin films were prepared by the FTS(Facing Targets Sputtering) system. The ITO thin films are deposited by changing the input current and working gas pressure. Then, electric characteristics, transmittance and surface roughness of ITO thin fil...

      The ITO thin films were prepared by the FTS(Facing Targets Sputtering) system. The ITO thin films are deposited by changing the input current and working gas pressure. Then, electric characteristics, transmittance and surface roughness of ITO thin films were measured by Hall effect measurement, UV-VIS spectrometer and AFM. As a result, the ITO thin film was fabricated with resistivity 6xl0$^{-4}$ Ωㆍcm, carrier mobility 52.11 $\textrm{cm}^2$/Vㆍsec, carrier concentration 1.72 x $10^{20}$ $cm^{-3}$ transmittance over 85 % of ITO film at working gas pressure 1 mTorr and input current 0.6 A.

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      참고문헌 (Reference)

      1 "대향타겟식 스퍼터링에 의한 Co-Cr 박막의 제작" 11 (11): 418-, 1998.

      2 "대향타겟스퍼터링법에 의한 FBAR용 AZO 박막의 제작" z 17 (z 17): 442-, 2004.

      3 "Surface modification if indium tin oxide by plasma treatment" 1384-, 1997.

      4 "Struc- ture and electrical properties of ITO thin films deposited at high rate by facing target sputtering" 445 : 245-, 2003.

      5 "Mass spectrometric ion analysis in the sputtering of oxide targets" a10 : 1719-, 1992.

      6 "FBAR용 ZnO/SiO2/Si 박막의 결정학적 특성에 관한 연구" 16 (16): 711-, 2003.

      7 "Electroluminescence in conjugated polymers" 121-, 1999.

      8 "Effect of hydrogen partial pressure on opoelectronic properties of indium tin oxide thin films deposited by radio frequency magnetron sputtering me- thod" 974-, 1999.

      9 "Development of indium tin oxide film texture during DC magnetron sputtering deposition" 343-, 2003.

      1 "대향타겟식 스퍼터링에 의한 Co-Cr 박막의 제작" 11 (11): 418-, 1998.

      2 "대향타겟스퍼터링법에 의한 FBAR용 AZO 박막의 제작" z 17 (z 17): 442-, 2004.

      3 "Surface modification if indium tin oxide by plasma treatment" 1384-, 1997.

      4 "Struc- ture and electrical properties of ITO thin films deposited at high rate by facing target sputtering" 445 : 245-, 2003.

      5 "Mass spectrometric ion analysis in the sputtering of oxide targets" a10 : 1719-, 1992.

      6 "FBAR용 ZnO/SiO2/Si 박막의 결정학적 특성에 관한 연구" 16 (16): 711-, 2003.

      7 "Electroluminescence in conjugated polymers" 121-, 1999.

      8 "Effect of hydrogen partial pressure on opoelectronic properties of indium tin oxide thin films deposited by radio frequency magnetron sputtering me- thod" 974-, 1999.

      9 "Development of indium tin oxide film texture during DC magnetron sputtering deposition" 343-, 2003.

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      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (재인증) KCI등재
      2017-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2013-01-01 평가 등재 1차 FAIL (등재유지) KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2006-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2005-05-30 학회명변경 영문명 : 미등록 -> The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2001-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      1998-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      2016 0.13 0.13 0.13
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.14 0.14 0.247 0.06
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