本 論文에서는 VLSI 回路에 Built-In Test 方式을 適用할 경우 一括 test가 可能하도록 回路分割하는 方法을 提案한다. 이 方法은 分割된 각 module을 한개씩 test할 필요가 없고, pipeline 방식으로 一...
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1984
Korean
004
학술저널
422-427(6쪽)
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本 論文에서는 VLSI 回路에 Built-In Test 方式을 適用할 경우 一括 test가 可能하도록 回路分割하는 方法을 提案한다. 이 方法은 分割된 각 module을 한개씩 test할 필요가 없고, pipeline 방식으로 一...
本 論文에서는 VLSI 回路에 Built-In Test 方式을 適用할 경우 一括 test가 可能하도록 回路分割하는 方法을 提案한다. 이 方法은 分割된 각 module을 한개씩 test할 필요가 없고, pipeline 방식으로 一括 test를 수행하므로 test시간과 test를 爲한 附加回路의 量을 상당히 줄일 수 있다.
목차 (Table of Contents)
Shallow binding을 이용한 효율적인 인터프리터의 설계및 구현
지식 기반 시스템 연구를 위한 한글 LISP 언어의 개발
Intermediate Code Translation for 8 bit Computer