http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
이 학술지의 논문 검색
Scope of Plasma Focus With Argon as a Soft X-Ray Source
Zakaullah, M.; Alamgir, K.; Shafiq, M.; Sharif, M.; Waheed, A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2089-2094
Toba, T.; Katsurai, M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2095-2101
Production of Hot Plasmas by Hypervelocity Impact
Pozwolski, A. E. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2102-2106
Large-Orbit M-type Oscillator with the Adiabatic Electron-Optical System
Kulagin, O. P.; Yeryomka, V. D. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2107-2112
Cathode Erosion Rate in High-Pressure Arcs Influence of Swirling Gas Flow
Nemchinsky, V. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2113-2116
Design and Emission Uniformity Studies of a 1.5-MW Gyrotron Electron Gun
Anderson, J. P.; Korbly, S. E.; Temkin, R. J.; Shapiro, M. A.; Felch, K. L.; Cauffman, S. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2117-2123
Vacuum Arc Cathode Spot Grouping and Motion in Magnetic Fields
Beilis, I. I. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2124-2132
Feasibility Studies on Performance Enhancement in Electrically Exploding Foil Accelerators
Kaushik, T. C.; Kulkarni, L. V.; Auluck, S. K. H. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2133-2138
Characterization of Pulsed Laser Generated Plasma Through Its Perturbation in an Electric Field
Bredice, F. O.; Orzi, D. J. O.; Schinca, D.; Sobral, H.; Villagran-Muniz, M. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2139-2143
Shimizu, K.; Okuno, Y. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.2144-2151
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
Scopus 데이터의 인용정보를 활용하여 산출되며, Scopus에 등재되지 않은 OA 저널평가에도 유용합니다.