- 1. 서론
- 2. 문헌 조사
- 3. 알고리즘 개발
- 4. 사례 연구
- 5. 결론
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2017
Korean
530
구)KCI등재(통합)
학술저널
388-396(9쪽)
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참고문헌 (Reference)
1 김보건, "유전알고리즘과 커널 부분최소제곱회귀를 이용한 반도체 공정의 가상계측 모델 개발" 대한산업공학회 23 (23): 229-238, 2010
2 남완식, "반도체 제조 가상계측 공정변수를 이용한 웨이퍼 수율 예측" 대한산업공학회 41 (41): 572-578, 2015
3 이상염, "다중회귀분석을 이용한 포트홀 개수 예측 모델 개발" 한국방재학회 14 (14): 91-98, 2014
4 Mun, B., "Virtual metrology models for predicting the quality characteristic" 2013 (2013): 381-387, 2013
5 강필성, "Virtual metrology for run-to-run control in semiconductor manufacturing" PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD 38 (38): 2508-2522, 2011
6 Song, D., "The repeater application on the mobile communication network and wireless link analysis of the repeater system" Sogang University 2005
7 Lee, S., "Probabilistic local reconstruction for k-NN regression and its application to virtual metrology in semiconductor manufacturing" 131 : 427-439, 2014
8 Jung, S., "Economic evaluation of defect prediction system using virtual metrology" 31 (31): 245-267, 2012
9 Shim, M., "Completion of the missing rainfall data by a multi-regression method," 775-779, 2006
10 Jeon, C., "Applied statistics for engineers" Hongrung Publishing Company 2012
1 김보건, "유전알고리즘과 커널 부분최소제곱회귀를 이용한 반도체 공정의 가상계측 모델 개발" 대한산업공학회 23 (23): 229-238, 2010
2 남완식, "반도체 제조 가상계측 공정변수를 이용한 웨이퍼 수율 예측" 대한산업공학회 41 (41): 572-578, 2015
3 이상염, "다중회귀분석을 이용한 포트홀 개수 예측 모델 개발" 한국방재학회 14 (14): 91-98, 2014
4 Mun, B., "Virtual metrology models for predicting the quality characteristic" 2013 (2013): 381-387, 2013
5 강필성, "Virtual metrology for run-to-run control in semiconductor manufacturing" PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD 38 (38): 2508-2522, 2011
6 Song, D., "The repeater application on the mobile communication network and wireless link analysis of the repeater system" Sogang University 2005
7 Lee, S., "Probabilistic local reconstruction for k-NN regression and its application to virtual metrology in semiconductor manufacturing" 131 : 427-439, 2014
8 Jung, S., "Economic evaluation of defect prediction system using virtual metrology" 31 (31): 245-267, 2012
9 Shim, M., "Completion of the missing rainfall data by a multi-regression method," 775-779, 2006
10 Jeon, C., "Applied statistics for engineers" Hongrung Publishing Company 2012
11 Kutner, M. H., "Applied linear statistical models" McGraw-Hill 2005
12 Kang, P., "A virtual metrology system for semiconductor manufacturing" 36 (36): 12554-12561, 2009
제조 특화형 라이브러리 기반 빅데이터 분석 플랫폼 구축에 관한 연구
워드임베딩과 그래프 기반 준지도학습을 통한 한국어 어휘 감성 점수 산출
혼합변수를 갖는 데이터의 분류를 위한 하이브리드 분류기
학술지 이력
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2021 | 평가예정 | 계속평가 신청대상 (등재유지) | |
2016-01-01 | 평가 | 우수등재학술지 선정 (계속평가) | |
2013-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (기타) | |
2012-05-25 | 학술지명변경 | 외국어명 : Journal of the Korean Insitute of Industrial Engineers -> Journal of the Korean Institute of Industrial Engineers | |
2010-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2008-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2006-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2001-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | |
1999-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) |
학술지 인용정보
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.65 | 0.65 | 0.66 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.56 | 0.47 | 1.026 | 0.14 |