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Kimura, T.; Kajino, K.; Watanabe, M.; Horii, Y.; Inoue, M.; Fujimaki, A. IEEE 2009 p.127-130
Hydrogen-Inclusion-Induced Critical Current Deviation of Nb/AlOx
Hinode, K.; Satoh, T.; Nagasawa, S.; Hidaka, M. IEEE 2009 p.131-134
Hinode, K.; Satoh, T.; Nagasawa, S.; Hidaka, M. IEEE 2009 p.131-134
Process-Induced Variability of Nb/Al
Tolpygo, S.K.; Amparo, D.; Yohannes, D.T.; Meckbach, M.; Kirichenko, A.F. IEEE 2009 p.135-139
Tolpygo, S.K.; Amparo, D.; Yohannes, D.T.; Meckbach, M.; Kirichenko, A.F. IEEE 2009 p.135-139
Ukibe, M.; Kurokawa, A.; Ohkubo, M. IEEE 2009 p.140-143
Amorphous Nb-Si Barrier Junctions for Voltage Standard and Digital Applications
Olaya, D.; Dresselhaus, P.D.; Benz, S.P.; Bjarnason, J.; Grossman, E.N. IEEE 2009 p.144-148
Multi-J~c (Josephson Critical Current Density) Process for Superconductor Integrated Circuits
Yohannes, D.T.; Inamdar, A.; Tolpygo, S.K. IEEE 2009 p.149-153
Effect of Electrical Stress on Josephson Tunneling Characteristics of Nb/Al
Amparo, D.; Tolpygo, S.K. IEEE 2009 p.154-158
Effect of Electrical Stress on Josephson Tunneling Characteristics of Nb/Al/AlO~x/Nb Junctions
Amparo, D.; Tolpygo, S.K. IEEE 2009 p.154-158
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