RISS 학술연구정보서비스

검색
다국어 입력

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

예시)
  • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
  • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
닫기
    인기검색어 순위 펼치기

    RISS 인기검색어

      KCI등재 SCOPUS

      TEM 관련 이론해설(7): 투과전자현미경의 고분해능 영상이론: 결맞음 (2) = Theory of High Resolution TEM Image Formation: Coherence (2)

      한글로보기

      https://www.riss.kr/link?id=A100571489

      • 0

        상세조회
      • 0

        다운로드
      서지정보 열기
      • 내보내기
      • 내책장담기
      • 공유하기
      • 오류접수

      부가정보

      국문 초록 (Abstract)

      고분해능 TEM 영상 이론의 결맞음 조산에서의 결맞음에 관한 개념을 소개하였다. 현미경에서 부분 결맞음 파동으로 인한 transfer function과 envelope의 발생을 설명하고 현미경의 분해능과 관련된...

      고분해능 TEM 영상 이론의 결맞음 조산에서의 결맞음에 관한 개념을 소개하였다. 현미경에서 부분 결맞음 파동으로 인한 transfer function과 envelope의 발생을 설명하고 현미경의 분해능과 관련된 passband와 Scherzer 초점 조건을 소개하고 결맞음 특성에 관하여 소개하였다.

      더보기

      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      In this review, the important ideas of coherence theory are introduced. The transfer function and damping envelopes of the microscope due to temporal and spatial coherence are described. The passbands and the condition of Scherzer focus are discussed ...

      In this review, the important ideas of coherence theory are introduced. The transfer function and damping envelopes of the microscope due to temporal and spatial coherence are described. The passbands and the condition of Scherzer focus are discussed in associated with the resolution of transmission electron microscope. The characterization of coherence is also described.

      더보기

      동일학술지(권/호) 다른 논문

      분석정보

      View

      상세정보조회

      0

      Usage

      원문다운로드

      0

      대출신청

      0

      복사신청

      0

      EDDS신청

      0

      동일 주제 내 활용도 TOP

      더보기

      주제

      연도별 연구동향

      연도별 활용동향

      연관논문

      연구자 네트워크맵

      공동연구자 (7)

      유사연구자 (20) 활용도상위20명

      인용정보 인용지수 설명보기

      학술지 이력

      학술지 이력
      연월일 이력구분 이력상세 등재구분
      2022 평가예정 재인증평가 신청대상 (재인증)
      2019-01-01 평가 등재학술지 선정 (계속평가) KCI등재
      2018-12-01 평가 등재후보로 하락 (계속평가) KCI등재후보
      2015-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2014-03-17 학술지명변경 외국어명 : Korean Journal of Microscopy -> Applied Microscopy KCI등재
      2011-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-09-22 학술지명변경 한글명 : 한국전자현미경학회지 -> 한국현미경학회지
      외국어명 : Korean Journal of Electron Microscopy -> Korean Journal of Microscopy
      KCI등재
      2007-10-24 학회명변경 한글명 : 한국전자현미경학회 -> 한국현미경학회
      영문명 : Korean Society Of Electron Microscopy -> Korean Society Of Microscopy
      KCI등재
      2007-01-01 평가 등재 1차 FAIL (등재유지) KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2003-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2002-01-01 평가 등재후보학술지 유지 (등재후보1차) KCI등재후보
      1999-01-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
      더보기

      학술지 인용정보

      학술지 인용정보
      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.11 0.11 0.12
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.12 0.12 0.273 0
      더보기

      이 자료와 함께 이용한 RISS 자료

      나만을 위한 추천자료

      해외이동버튼