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웨이블렛 적외선열화상에 의한 결함 탐상 메커니즘의 위상대비 정량화 분석
이효원(Hyowon Lee),김원태(Wontae Kim) 한국비파괴검사학회 2020 한국비파괴검사학회지 Vol.40 No.2
능동 적외선열화상 기법은 다양한 재료, 구조물의 비파괴검사 방법으로 신뢰할 수 있는 기법으로 평가받고 있다. 그러나 불균일한 가열, 낮은 공간 분해능, 환경 노이즈와 적외선 카메라의 낮은 해상도, 낮은 이미지 획득 수와 같은 제한으로 인해 결함의 정량화에 어려움이 발생하고 있다. 결함 정량화 개선을 위해 신호 처리 기법이 요구되고 있다. 본 논문에서는 결함 정량화 개선을 위한 웨이블렛 변환 기법을 연구하였다. 알루미늄 시험편에 다양한 크기와 직경의 정사각형 결함이 고려되었으며, 펄스 적외선열화상 기법을 이용하여 얻은 열화상 이미지 시퀀스에 웨이블렛 변환을 적용하여 위상 각 데이터를 얻었다. 웨이블렛 파라미터인 스케일과 시프트의 영향을 분석하여 건전부와 결함부의 위상 대비를 통해 결함 검출능을 개선하였다. Active infrared thermography has been proved as a reliable method for nondestructive testing of various materials and structures. However, limitations such as uneven heating, low spatial resolution, environmental noise and low resolution of infrared cameras, and low number of acquired images make it difficult to quantify defects. Signal processing techniques are required to improve defect quantification. In this paper, a wavelet transform method for defect quantification is studied. Square defects of various sizes and diameters were considered for aluminum specimens. Phase angle data were collected by applying wavelet transform to the thermal image sequence obtained using pulsed thermography. Conclusively, defect detection was evaluated by the phase contrast between sound and defect region, and then the effects of wavelet parameters scale and shift were studied.
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