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      • SCIESCOPUSKCI등재
      • KCI등재

        An Integrated Process Control Procedure with Repeated Adjustments and EWMA Monitoring under an IMA(1,1) Disturbance with a Step Shift

        박창순 한국통계학회 2004 Journal of the Korean Statistical Society Vol.33 No.4

        Statistical process control (SPC) and engineering process control (EPC) are based on dierent strategies for process quality improvement. SPC reduces process variability by detecting and eliminating special causes of process variation, while EPC reduces process variability by adjusting compensatory variables to keep the quality variable close to target. Recently there has been need for an integrated process control (IPC) procedure which combines the two strategies. This paper considers a scheme that simultaneously applies SPC and EPC techniques to reduce the variation of a process. The process model under consideration is an IMA(1,1) model with a step shift. The EPC part of the scheme adjusts the process, while the SPC part of the scheme detects the occurrence of a special cause. For adjusting the process repeated adjustment is applied according to the predicted deviation from target. For detecting special causes the exponentially weighted moving average control chart is applied to the observed deviations. It was assumed that the adjustment under the presence of a special cause may increase the process variability or change the system gain. Reasonable choices of parameters for the IPC procedure are considered in the context of the mean squared deviation as well as the average run length.

      • KCI등재

        Monitoring of Gene Regulations Using Average Rankin DNA Microarray: Implementation of R

        박창순 한국데이터정보과학회 2007 한국데이터정보과학회지 Vol.18 No.4

        Traditional procedures for DNA microarray data analysis are to preprocess and normalize the gene expression data, and then to analyze the normalized data using statistical tests. Drawbacks of the traditional methods are: genuine biological signal may be unwillingly eliminated together with artifacts, the limited number of arrays per gene make statistical tests difficult to use the normality assumption or nonparametric method, and genes are tested independently without consideration of interrelationships among genes. A novel method using average rank in each array is proposed to eliminate such drawbacks. This average rank method monitors differentially regulated genes among genetically different groups and the selected genes are somewhat different from those selected by traditional P-value method. Addition of genes selected by the average rank method to the traditional method will provide better understanding of genetic differences of groups.

      • KCI등재

        도금공정에서 최소기대손실을 위한 목표치의 설정

        박창순,김정준,Park, Chang-soon,Kim, Jung-Jun 한국데이터정보과학회 2010 한국데이터정보과학회지 Vol.21 No.6

        도금공정에서는 도금두께의 규격한계는 주어지지만 대부분의 경우 목표치는 주어지지 않는다. 목표치가 주어지지 않았을 때 일반적으로 규격의 중심점이 목표치로 사용된다. 하지만 공정능력치가 크다면 규격의 중심을 목표치로 사용하는 것은 총 손실비용면에서 최선의 선택이 아니다. 이 논문에서는 총 손실비용을 생산비용과 손실함수의 합으로 정의하였고 기대 총 손실비용을 최소화 하는 목표치를 제안하였다. 그리고 그때의 공정능력치의 감소가 미미한 것을 보였다. In the plating process of the IC chips for the printed circuit board manufacturing, specification limits for the plating thickness are usually given but its target is not specified in most cases. When the target is not specified, the center point of the specification limits is used instead. When the process capability is large, however, the use of the center point for the target is not the best choice in the context of the total cost. In this paper, the total cost is defined in terms of the production cost and the loss function, and then the optimal choice for target is studied in order to minimize the expected loss. As a consequence, the optimal choice of the target reduces the expected loss significantly, while reducing the process capability slightly.

      • KCI등재

        미세 구조 변화에 따른 ZnS 세라믹의 중적외선 투과 특성 연구

        박창순,여서영,권태형,박운익,윤지선,정영훈,홍연우,조정호,백종후,Park, Chang-Sun,Yeo, Seo-Yeong,Kwon, Tae-Hyeong,Park, Woon-ik,Yun, Ji-Sun,Jeong, Young-Hun,Hong, Youn-Woo,Cho, Jeong-Ho,Paik, Jong-Hoo 한국전기전자재료학회 2017 전기전자재료학회논문지 Vol.30 No.11

        Transparent ZnS ceramics were synthesized by hydrothermal synthesis ($180^{\circ}C$ for 70 h), and were sintered by a hot press process at $950^{\circ}C$. To confirm the optical properties of the ZnS ceramics after sintering for various sintering holding times, we performed X-ray diffraction analysis, scanning electron microscopy, and Fourier-transform-infrared spectroscopy. The ZnS nanopowders was found to be single-phase (cubic) without any hexagonal phase. However, the hexagonal phase is formed and increases in content with increasing sintering holding time. The density of the ZnS ceramics was above 99.7%, except for the unsintered one. The ZnS ceramics showed high transmittance (~70%) when sintered for more than 2 h.

      • KCI등재

        편차제곱평균과 수정량분산의 균형을 위한 단일 및 이중 지수가중이동평균 피드백 수정기의 수정

        박창순,권성구,Park, Chang-Soon,Kwon, Sung-Gu 한국데이터정보과학회 2009 한국데이터정보과학회지 Vol.20 No.1

        수정절차에서 공정수정기는 잡음이 존재하지만 제거할 수 없을 때 공정수준을 목표치에 가깝게 수정하는데 종종 유용하게 사용된다. 강건 수정기의 예로는 단일 및 이중 지수가중이동평균 수정기가 있다. 이중 지수가중이동평균 수정기는 단일 지수가중이동평균 수정기가 제거할 수 없는 공정편차의 치우침을 줄일 수 있도록 고안되었다. 이 논문에서는 이 두 가지 수정기가 적용될 때 과도하게 커질 수 있는 수정량분산을 줄일 수 있도록 원래의 수정기에 지수가중이동평균을 적용함으로써 수정되었다. 주어지 수정기에 대한 지수가중이동평균 수정은 편차제곱평균은 조금 증가시키지만, 수정량분산을 줄이는데 성공적임을 보이고 있다. The process controller in the adjustment procedure is often used effectively to control the process level close to target when noise is present and unremovable. Examples of the robust controller are single EWMA controller and double EWMA controller. Double EWMA controller is designed to reduce the offset of the process deviation, which single EWMA can not eliminate. In this paper, the two controllers are modified by taking EWMA of the original controller to reduce the adjustment variance, which may become excessively large when the two given controllers are implemented. It is shown that the EWMA modification of the given controllers is successful in reducing the adjustment variance, while the mean squared deviation increases slightly.

      • KCI등재

        열처리에 따른 Diamond-like Carbon (DLC) 박막의 특성변화

        박창순,구경호,박형호,Park, Ch.S.,Koo, K.H.,Park, H.H. 한국마이크로전자및패키징학회 2011 마이크로전자 및 패키징학회지 Vol.18 No.1

        Diamond-like carbon (DLC)은 $Sp^3$ 결합분율이 높은 준안정 상태의 비정질 탄소물질로 이루어진 박막이다. DLC는 기계적 특성, 화학적 특성, 윤활 특성뿐만 아니라 광학적, 전기적 특성 또한 우수한 물질이다. 본 연구에서는 DLC 박막을 그라파이트(graphite) 타깃을 출발 물질로 하여 고주파 마그네트론 스퍼터(RF magnetron sputter)로 $SiO_2$ 기판 상에 증착하였다. 증착된 DLC 박막은 후 열처리를 하였으며 열처리 온도에 따른 DLC 박막의 특성 변화를 관찰하였다. 열처리는 진공에서 급속가열법(rapid thermal process)으로 $300{\sim}500^{\circ}C$ 범위에서 시행하였다. 열처리된 DLC 박막은 전기적 특성 평가를 위하여 Hall 계수 측정기를 이용하여 상온 비저항을 측정하였으며 표면 변화를 확인하기 위하여 원자력 현미경(atomic force microscopy)을 이용하여 표면형상 변화를 관찰 하였다. 또한 표면특성, 비저항 특성 변화와 구조적 특성 변화와의 관계를 확인하기 위하여 X-선 광전자 분광법(X-ray photoelectron spectroscopy)과 라만 분광법을 이용하여 열처리에 따른 DLC 박막의 구조 변화를 관찰하였다. Diamond-like carbon (DLC) films is a metastable form of amorphous carbon containing a significant fraction of Sp3 bond. DLC films have been characterized by a range of attractive mechanical, chemical, tribological, as well as optical and electrical properties. In this study DLC films were prepared by the RF magnetron sputter system on $SiO_2$ substrates using graphite target. The effects of the post annealing temperature on the Property variation of the DLC films were examined. The DLC films were annealed at temperatures ranging from 300 to $500^{\circ}C$ using rapid thermal process equipment in vacuum. The variation of electrical property and surface morphology as a function of annealing treatment was investigated by using a Hall Effect measurement and atomic force microscopy. Raman and X-ray photoelectron spectroscopy analyses revealed a structural change in the DLC films.

      • KCI등재

        ARIMA(0,1,1)모형에서 통계적 공정탐색절차의 MARKOV연쇄 표현

        박창순 한국통계학회 2003 응용통계연구 Vol.16 No.1

        일정 시간간격으로 품질을 측정하는 공정관리절차의 경제적 설계에서는 그 특성의 규명이 측정시점의 이산성 (discreteness) 때문에 복잡하고 어렵다. 이 논문에서는 공정 탐색 절차를 Markov 연쇄(chain)로 표현하는 과정을 개발하였고, 공정분포가 공정주기 내에서 발생하는 잡음과 이상원인의 효과를 설명할 수 있는 ARIMA(0,1,1) 모형을 따를 때에 Markov 연쇄의 표현을 이용하여 공정탐색절차의 특성을 도출하였다. Markov 연쇄의 특성은 전이행렬에 따라 달라지며, 전이행렬은 관리절차와 공정분포에 의해 결정된다. 이 논문에서 도출된 Markov 연쇄의 표현은 많은 다른 형태의 관리절차나 공정분포에서도 그에 해당하는 전이행렬을 구하면 쉽게 적용될 수 있다. In the economic design of the process control procedure, where quality is measured at certain time intervals, its properties are difficult to derive due to the discreteness of the measurement intervals. In this paper a Markov chain representation of the process monitoring procedure is developed and used to derive its properties when the process follows an ARIMA(0,1,1) model, which is designed to describe the effect of the noise and the special cause in the process cycle. The properties of the Markov chain depend on the transition matrix, which is determined by the control procedure and the process distribution. The derived representation of the Markov chain can be adapted to most different types of control procedures and different kinds of process distributions by obtaining the corresponding transition matrix.

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